
Ebenheitsmessung mit einem Neigungsmesssystem
Mit Hilfe des µLevel können Ebenheiten sehr exakt bestimmt werden. Das System misst hier Winkel. Wenn nun die Messungen auf einem festgelegten Gitter erfolgen ergibt sich so ein hochgenaues Bild der Oberfläche. Durch die Kenntnis der Messlänge kann hieraus eine Höhendifferenz bestimmt werden. Im obigen Bild kann man die gemessenen Winkel-Werte in µm/m erkennen.
Durch die Korrelation aller Messungen zueinander entsteht so eine Aneinanderreihung von Winkeln über eine bekannte Messlänge. Hieraus lassen sich nun die Höhendifferenzen berechnen.